X-RAY Tomography in Material Science

par José BARUCHEL, Jean-Yves BUFFIÈRE, Éric MAIRE

Crédits & contributions

EAN

TexteJosé BARUCHEL, Jean-Yves BUFFIÈRE, Éric MAIRE

ÉditeurHERMES SCIENCE
Parution21 mars 1970

Prix TTC

52,00€

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