Caractérisation et nettoyage du silicium : caractérisation physico-chimique et nettoyage par voie humide

par Annie BAUDRANT, François TARDIF, Christophe WYON

Crédits & contributions

EAN

TexteAnnie BAUDRANT, François TARDIF, Christophe WYON

ÉditeurHERMES SCIENCE
Parution29 janvier 2003
CollectionTraité EGEM - Série Electronique et micro-électronique

Prix TTC

67,00€

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